测量高Q贴片陶瓷电容器ESR的方法

测量高Q贴片陶瓷电容器的ESR，需要一个测试系统，它的固有Q值要比受测器件（DUT）还要高。做这种测量时，通常会用到高Q同轴线谐振器。这种谐振器里面，中心导体是由铜管和实心铜棒组成的。受测器件（DUT）要串联在这根中心导体和接地线之间。但在测量ESR之前，得先建立谐振线的空载特性。

这个特性是通过给短路的同轴线施加射频激励，然后确定1/4和3/4的带宽来实现的。建立了1/2和1的带宽测量后，线路得被开路。这样得到的数据可以用来描述这个谐振线的空载Q值、固定电阻以及谐振频率。通常这个线路的空载值在1300~5000之间（频率范围是130MHz~3GHz），固定电阻Rfo大约在5~7mΩ。

电容器样品要跟固定在低阻抗线路末端的短路棒串联放置。调整发生器使它达到一个峰值谐振电压，然后再从谐振两侧峰值电压向下重新调整6dB。在靠近高阻抗线路末端（大约在短路端的1/4波长处）的地方，要固定一个松散耦合的射频毫伏表探头。这个探头用来测量6dB点的射频电压。

受测器件（DUT）与空载线路相比，会影响线路的Q值，从而改变共振频率和带宽。相应的6dB下降频率称为fa和fb，这些数据可以用来计算电容器的ESR。这种方法就叫做Q微扰法。