3.影响贴片电容容值测量偏低的因素
（1)测试仪器内部的阻抗大小影响
由于不同的测试仪器之间的内部阻抗都不同，造成仪器将总电压分压而使加在测试电容两端的实际电压变小。在实际的测试过程中，我们有必要先使用万用表等工具测试夹具两端的实际电压，以确定加在测试贴片电容两端的输出电压。
（2）不同阻抗的测试仪器的输出电压对比如下：
仪器内阻100Ω
1V*（100Ω/（100Ω+16Ω））=0.86V
10uF测试电容的两端电压：
1V*（16Ω/（100Ω+16Ω））=0.14V
平均电容值读数：6-7uF
仪器内阻 1.5Ω：
1V*（1.5Ω/（1.5Ω+16Ω））=0.086V
10uF测试电容两端电压：
1V*（16Ω（1.5Ω+16Ω））=0.914V
平均电容值读数：9-10uF
4. 测量环境条件对测量结果的影响
贴片陶瓷电容系列产品被称为非温度补偿性元件，即在不同的工作环境下，电容量会有比较显著的变化，在不同的工作环境下，电容标称值与实际容值之间的差异。例如，在40℃的测试容量将比25℃的测试容量低了接近20%。由此可见，在外部环境温度比较高的情况下，电容容值的测试值就会显得偏低。我们通常建议放置在20℃的环境下一段时间，使材料处于稳定的测试环境下在进行容值测试。
5、贴片陶瓷电容产品材料老化现象
材料老化是指电容的容值随着时间降低的现象，这再所有以铁电系材料做介电质的材料产品中均有发生，是一种自然的不可避免的现象。原因是因为内部晶体结构随温度和时间产生了变化导致了容值的下降，属于可逆现象。当对老化的材料施加高于材料居里温度段时间后（建议进行容值恢复所使用之条件为150℃/1hour），当环境温度恢复到常温后（常温25℃下放置24小时）,材料的分子结构将会回到原始的状态。材料将由此开始老化的又一个循环，贴片电容的容值将恢复到正常规格之内。
用以上方式验证，把测试容量偏低的电容器浸在锡炉或者回流焊后，再进行测试，容值会恢复到正常范围之间。
